Microscope électronique à balayage JEOL - Institut de Recherche en
Par un écrivain mystérieux
Description
JEOL JSM-6060LA Principe La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. Le principe consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image de la surface. Fiche technique Dimensions utiles (x,y,z) : 80 x 40 x 50mm Résolution : 3.5nm (30kV), 20nm (10kV) Grossissement : x 8 à x 300 000 EDS Detector
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Microscopie électronique à balayage (MEB), JSM-IT300 LV de JEOL
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Microscopie électronique - Centre de recherches sur les
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Microscopies électroniques - IS2M
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Microscope Electronique à Balayage de haute résolution (MEB) JSM
Plateforme Microscopie électronique
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Équipements - Faculté des sciences et de génie - Université Laval
Microscope Électronique à Balayage (MEB) - LEME
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Microscope électronique à transmission - BICEL de l'Université de
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Microscopies électroniques - IS2M
depuis
par adulte (le prix varie selon la taille du groupe)